lga60翻盖探针转dip48测试座 产品简介 1. 大小兼容设计，只要换限位框，即可测试外形尺寸不同的lga flash； 2. lga测试座测试寿命可达20万次以上，是yamaichi和okins同类lga socket寿命的10倍以上；并且探针可更换，维修方便，成本低； 6. 采用手动翻盖式结构，操作方便； 7. 上盖的压板采用特殊结构，下压平稳，保证ic的压力均匀，不移位； 8. 高精度的定位槽，保证lga定位精确，生产效率高； 9. 整机24小时工作性能稳定可靠，是flash经销商及u盘工厂好帮手！ 10. 探针材料：铍铜(标准)； 11.绝缘材料：fr-4、pps等； 产品功能 1. 对flash进行清空及分类挑选。 2.对nand　flash进行格式化，测试实际可以用容量。 3.对flash进行直接量产，提高u盘生产效率。 实物图