bga152翻盖双面弹一拖二测试座 bga152翻盖弹片一拖二测试座是我公司为了flash行业研发的低成本解决方案，翻盖操作取换芯片简单，大批量测试时减少对测试员工手的伤害！成为高性价比的测试座，该产品采用弓形弹片结构，这种结构加上进口铍 铜镀金有良好的伸缩性能，特殊的月牙形针头，更可以做到日本等品牌测试座做不到重要的特点：我们的可以有球无球残球均可测试！而其他品牌只能测试新的有球的芯片。 产品简介 产品用途:编程座、测试座，对bga152的ic芯片进行测试、读取数据 适用封装:bga152、bga132 引脚间距1.0mm 测试座:bga152/132-1.0 特别说明：暂时只能支持tlc等级的flash,支持4ce以下的芯片 产品特点 1. 可以测试各类封装的flash bga100 /132 /tsop48/lga等转dip48的测试座都可以随意更换 2. 每款测试座都转成了由我公司定义的行业通用标准48pin，不仅可以用在固态硬盘测试架上，如果有一些不能用于ssd等级的芯片还可以用我们的测试座插在u盘方案的一拖四测试架上面测试，为客户减少测试架成本。 sm2256k主控 规格尺寸 型号:bga152/132-1.0 引脚间距(mm):1.0 脚位:88 适配芯片尺寸:12*18mm 或 14*18mm 可更换限位框，买前告知芯片尺寸。 实物图 更多产品信息，请详询！ 公司网站：www.hy(请复制浏览器打开）